扩散硅压阻片的测压原理是半导体的电阻变化率与被测压力( )。

admin2018-10-12 32

问题扩散硅压阻片的测压原理是半导体的电阻变化率与被测压力( )。

选项 A、成正比
B、成反比
C、呈线性关系
D、呈一定的函数关系

答案A

解析

转载请注明原文地址:https://kaotiyun.com/show/5dhx777K

本试题收录于：热工仪表检修（高级）题库材料与能源大类分类

0

热工仪表检修（高级）

材料与能源大类

相关试题推荐

随机试题

最新回复(0)