一般情况下,电子元器件的寿命试验属于( )。

admin2010-05-20  2

问题 一般情况下,电子元器件的寿命试验属于(   )。

选项 A、非破坏性检验
B、破坏性检验
C、全数检验
D、感官检验

答案B

解析 “寿命试验”是指进行破坏性试验后无法实现对该样品进行重复检验,而且一般都丧失了原有的使用价值。通常,这一类型试验基本都属于破坏性检验。
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