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  3. X线头影测量的主要应用有( )。

X线头影测量的主要应用有( )。

admin2019-05-15  31
问题 X线头影测量的主要应用有(       )。
选项 A、可研究颅面生长发育
B、可对牙颌、颅面畸形作诊断分析
C、可确定错畸形的矫治设计
D、可用于研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化
E、可作为外科正畸诊断和矫治设计依据
答案A,B,C,D,E
解析 X线头影测量的主要应用包括：①研究颅面生长发育。②牙颌、颅面畸形的诊断分析。③确定错畸形的矫治设计。④研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化。⑤外科正畸的诊断和矫治设计。⑥下颌功能分析。
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