(  )主要用于检查表面及近表面缺陷。该方法与渗透探伤方法比较,不但探伤灵敏度高、速度快,而且能探查表面一定深度下缺陷。

admin2009-04-15  33

问题 (  )主要用于检查表面及近表面缺陷。该方法与渗透探伤方法比较,不但探伤灵敏度高、速度快,而且能探查表面一定深度下缺陷。

选项 A、磁性探伤
B、光谱分析
C、声发射试验
D、射线探伤

答案A

解析
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