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  3. 下面有关片上调试技术的描述语句中，不恰当的是( )。

下面有关片上调试技术的描述语句中，不恰当的是( )。

admin2019-03-20  76
问题 下面有关片上调试技术的描述语句中，不恰当的是(   )。
选项 A、边界扫描技术是调试硬件芯片及目标机电路板的一种常用调试技术
B、JTAG组织所研究的测试访问端口和边界扫描结构标准，成为了片上测试技术的一种国际标准，即俗称的JTAG标准
C、使用片上调试技术进行嵌入式系统目标机调试时，无需目标存储器，也不占用目标机任何I／O端口
D、JTAG标准的片上调试技术采用并行方式与扫描链进行数据交互
答案D
解析 由于传统ICE难以胜任高速嵌入式系统的开发，目前越来越多的嵌入式处理器借助于片上调试技术（On–Chip Debugging， OCE）进行嵌入式系统的调试。边界扫描（Boundary Scan）测试技术是对芯片或印制电路板进行片上调试最常用的一种技术。JTAG是IEEE的一个下属组织，任务是研究测试访问端口和边界扫描结构的标准。JTAG标准允许多个芯片（电路）的边界扫描寄存器BSR通过JTAG接口串联在一起，实现对多个器件的测试。串接起来的扫描链包含的串行数据流可能长达几百位。使用JTAG进行嵌入式系统的调试，无需目标存储器，也不占用目标机任何I／O端口。所以本题选D。
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