X线头影测量主要应用于

admin2018-08-27 45

问题 X线头影测量主要应用于

选项 A、研究颅面生长发育
B、骨龄的确定
C、错

畸形的诊断分析
D、正畸矫治的前后对照
E、正颌外科

答案A，C，D，E

解析 X线头影测量主要应用于研究颅面生长发育、错

畸形的诊断分析、正畸矫治的前后对照以及正颌外科。

转载请注明原文地址:https://kaotiyun.com/show/5gOj777K

口腔医学技术（103）

相关试题推荐

随机试题

最新回复(0)