X线头影测量主要应用于

admin2018-08-27  35

问题 X线头影测量主要应用于

选项 A、研究颅面生长发育
B、骨龄的确定
C、错畸形的诊断分析
D、正畸矫治的前后对照
E、正颌外科

答案A,C,D,E

解析 X线头影测量主要应用于研究颅面生长发育、错畸形的诊断分析、正畸矫治的前后对照以及正颌外科。
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