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  3. 现代电子设计方法包含了可测试设计，其中(39)接口是IC芯片测试的标准接口。

现代电子设计方法包含了可测试设计，其中(39)接口是IC芯片测试的标准接口。

admin2021-01-07  38
问题 现代电子设计方法包含了可测试设计，其中(39)接口是IC芯片测试的标准接口。
选项 A、BIST
B、JTAG
C、UART
D、USB
答案B
解析 可测试设计的三个方面是测试生成、测试验证和测试设计。测试生成是指产生验证　IC芯片行为的一组测试码。测试验证指给定测试集合的有效性测度，这通常是通过故障仿真来估算的。测试设计是设计者在电路设计阶段就考虑芯片的测试结构问题，在设计用户逻辑的同时，还要设计测试电路。现代电子设计方法包含可测试设计。内建测试系统(BIST)是SOC片上系统的重要结构之一。JTAG测试接口是IC芯片测试方法的标准。
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