X线头影测量的主要应用有

admin2010-11-11 17

问题 X线头影测量的主要应用有

选项 A、可对牙牙合、颅面畸形作诊断分析
B、可用于研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化
C、可确定错骀畸形的矫治设计
D、可作为外科正畸诊断和矫治设计依据
E、可研究颅面生长发育

答案A,B,C,D,E

解析

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口腔正畸学（357）

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